微通道板电极表面的XPS分析

• 作者: 常本康 李晓峰 杨伟毅 车晶
• 来源期刊: 真空科学与技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 微通道板 电极表面 X射线光电子能谱
• 年，卷（期）: 1998,（4）
• 所属期刊栏目: 技术交流
• 页码范围: 298-301
• 页数: 4页
• 分类号: TB7
• 字数: 2347字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-7126.1998.04.011

摘要

为探索微通道板的噪声来源,利用X射线光电子能谱对国内和国外MCP电极表面进行组分分析.实验发现,在国外MCP电极表面上只检测到Ni,Cr,C,O等原子谱峰,而在国内的MCP电极表面还检测到K,Na,Si等原子谱峰,且在国产未镀电极的MCP表面检测出K的原子谱峰.分析认为,MCP体内的K有向表面偏析的现象;MCP电极表面上的杂质,如K,Na,S等是MCP噪声来源之一;国产MCP表面的杂质不仅与MCP镀膜材料纯度、系统真空度有关,而且还与电极膜层的致密性有关.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	常本康	南京理工大学电子工程与光电技术学院	234	2020	19.0	30.0
2	杨伟毅	南京理工大学电子工程与光电技术学院	5	27	4.0	5.0
3	车晶	南京理工大学电子工程与光电技术学院	2	11	2.0	2.0
4	李晓峰	南京理工大学电子工程与光电技术学院	1	7	1.0	1.0