X荧光光谱法测定沉积在镍基合金带上Nb3Sn成分比

• 作者: 徐金瑞
• 来源期刊: 光谱实验室
• 学科: 化学
• 关键词: X荧光光谱法 Sn Nb
• 年，卷（期）: 1998,（5）
• 页码范围: 0
• 页数: 1页
• 分类号: O6
• 字数: 1935字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-8138.1998.05.019

摘要

本文提出用溶液法X荧光光谱测定沉积在镍基合金带上Nb3Sn成份比.在较低管压和管流的条件下采用二元比例法,铌锡荧光强度比与其重量比呈良好线性关系.铌锡薄层与合金基带的重量比,试液浓度,液槽中试样液面的高低等不影响铌锡的荧光强度比.方法的准确度和再现性,令人满意.