X射线荧光光谱粉末直接压片法测定哈默斯雷铁矿中的主次元素含量

• 作者: 刘邦杰 胥成民
• 来源期刊: 光谱实验室
• 学科: 物理学
• 关键词: X射线荧光光谱法 粉末直接压片 哈默斯雷铁矿
• 年，卷（期）: 1998,（2）
• 页码范围: 0
• 页数: 1页
• 分类号: O4
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-8138.1998.02.021

摘要

本方法采用塑料环作镶圈,粉末直接压片,用X射线荧光光谱法测定哈默斯雷铁矿中的TFe、SiO2、Al2O3、P、S、Cu、MgO、K2O和Na2O的含量,试验结果表明:基体影响无需进行校正,方法的准确度和精密度均较高,结果令人满意.