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摘要:
采用射频共溅技术制备了InAs_SiO2 镶嵌复合薄膜 ,透射电子显微镜观察分析了该复合薄膜的微结构和形成规律 .结果表明 ,随着衬底温度的提高 ,复合薄膜中InAs的聚集状态经历由完全弥散到分形聚集再到纳米晶颗粒的转变 .测量了该复合薄膜室温光吸收谱 ,观察到了吸收边发生较大蓝移的现象 ,并用量子取域理论对这种现象进行了解释 .
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文献信息
篇名 纳米INAS镶嵌复合薄膜的制备及光吸收
来源期刊 科学通报 学科 工学
关键词 纳米镶嵌复合薄膜 射频共溅 光吸收 量子限域
年,卷(期) 1998,(12) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 1273-1277
页数 5页 分类号 TB383
字数 语种 中文
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纳米镶嵌复合薄膜
射频共溅
光吸收
量子限域
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科学通报
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11-1784/N
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1950
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