声表面波存贮相关卷积器的研制

• 作者: 印建华 张朝 水永安 赵杰
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 存贮相关卷积器 二极管阵列 少子寿命 声表面波 抽头延迟线 电子辐照
• 年，卷（期）: 1998,（6）
• 所属期刊栏目: 学术论文与技术报告
• 页码范围: 0
• 分类号: TN0
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0372-2112.1998.06.007

摘要

本文介绍了LiNbO3抽头延迟线(TDL)外接p+n二极管阵列结构的声表面波(SAW)存贮相关卷积器.器件的中心频率为30MHz,卷积效率为-54dBm,存贮相关效率为-76dBm,信号存贮时间大于70ms.文中讨论了杂波产生的原因及其抑制,以及二极管阵列少子寿命与存贮时间的关系,计算了相关输出与参考信号和读信号的关系,结果表明这种结构的器件是双线性的.文中还对这种结构器件的设计及优化提出了建议.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	水永安	南京大学声学研究所	7	18	3.0	4.0
2	赵杰	东南大学电子工程系	5	17	1.0	4.0
3	张朝	中国科学技术大学电子工程与信息科学系	7	56	3.0	7.0
4	印建华	南京大学声学研究所	1	0	0.0	0.0