keV量级的N+注入引起的氨基酸分子损伤

• 作者: 余增亮 韩建伟
• 来源期刊: 核技术
• 学科: 工学
• 关键词: 离子注入 注入损伤 氨基酸
• 年，卷（期）: 1999,（4）
• 页码范围: 200-204
• 页数: 5页
• 分类号: TL1
• 字数: 2287字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3219.1999.04.002

摘要

利用电子顺磁共振和红外光谱研究了keV级N+注入到几种固态氨基酸样品中引起的分子结构损伤.结果表明,这一注人导致了分子的严重损伤:分子结构解体,红外吸收普遍降低;产生了大量的碎片,其中自由基碎片的类型和数量随注人离子的剂量发生显著变化;损伤碎片重组,形成了新的化学组合,表现出新的红外吸收峰.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	余增亮	中国科学院等离子体物理研究所	179	4127	35.0	57.0
2	韩建伟	中国科学院空间中心	90	549	14.0	18.0