X射线荧光光谱法测定长石的化学成分

• 作者: 袁欣艺 谌观秀
• 来源期刊: 岩矿测试
• 学科: 化学
• 关键词: 粉末压片 X射线荧光光谱 长石 成分
• 年，卷（期）: 1999,（3）
• 所属期刊栏目: 来稿摘登
• 页码范围: 232-234
• 页数: 3页
• 分类号: O657.34|P578.968
• 字数: 1416字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0254-5357.1999.03.017

摘要

采用粉末压片制样、X射线荧光光谱仪测定长石的化学组成,可获高准确度和高精密度的分析结果,测定值与化学法及推荐值相符,重复10次测定主、次量组分的RSD<0.6%,痕量组分RSD<3%.方法简便快捷,分析时间仅为传统湿法化学分析的1/8,满足工艺过程中批次配料需要.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	袁欣艺		1	9	1.0	1.0
2	谌观秀		1	9	1.0	1.0