多芯Bi2223/Ag带材在工频和77K下的交流损耗

• 作者: 曾荣 林良真 王银顺 窦士学 胡倾宇
• 来源期刊: 电工电能新技术
• 学科: 工学
• 关键词: 高温超导电性 多芯带材 交流损耗
• 年，卷（期）: 1999,（1）
• 所属期刊栏目: 论文报告
• 页码范围: 16-18
• 页数: 3页
• 分类号: TM5
• 字数: 1674字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-3076.1999.01.005

摘要

本文研究77K温区和不同背场下81芯Bi2223/Ag带材的传输交流损耗.临界电流的测量采用标准的四引线法;交流损耗的测量是在工频下样品通以正弦交流电流,利用电测法测量的.实验结果与Bean临界态模型所预言的结果一致,损耗随背场的增大(临界电流的减小)而增大,并且与频率成正比;所以带材中损耗以磁滞损耗为主,涡流损耗(耦合损耗)可以忽略.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王银顺	国科学院电工研究所	1	2	1.0	1.0
2	林良真	国科学院电工研究所	1	2	1.0	1.0
3	胡倾宇	美国佛罗里达大学国家高场实验室	1	2	1.0	1.0
4	曾荣		1	2	1.0	1.0
5	窦士学		1	2	1.0	1.0