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摘要:
目前的可编程芯片中已经广泛支持边界扫描测试技术,本文对于如何在可编程芯片中应用边界扫描,如何通过可编程芯片的边界扫描结构进行测试,以及可编程芯片中的边界扫描结构对于配置、在系统编程的作用作了详细的说明。
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内容分析
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文献信息
篇名 带有边界扫描的可编程芯片及其应用
来源期刊 电子元器件应用 学科 工学
关键词 边界扫描 可编程器件 可测性设计
年,卷(期) 1999,(4) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 19-22
页数 4页 分类号 TN492
字数 语种
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 郭学仁 桂林电子工业学院CAT研究室 4 26 2.0 4.0
2 张弘 桂林电子工业学院CAT研究室 1 0 0.0 0.0
传播情况
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引文网络
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1999(0)
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研究主题发展历程
节点文献
边界扫描
可编程器件
可测性设计
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子元器件应用
月刊
1563-4795
大16开
西安市科技路37号海星城市广场B座240
1999
chi
出版文献量(篇)
5842
总下载数(次)
7
总被引数(次)
11366
论文1v1指导