初始气孔率热老化试验研究与应用--预测固体推进剂贮存寿命的一种新方法

• 作者: 蔡体敏 高鸣
• 来源期刊: 推进技术
• 学科: 航空航天
• 关键词: 固体推进剂 贮存寿命 热老化
• 年，卷（期）: 1999,（5）
• 所属期刊栏目: 推进剂
• 页码范围: 99-103
• 页数: 5页
• 分类号: V512.3
• 字数: 817字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-4055.1999.05.022

摘要

通过对固体推进剂药柱进行初始气孔率热老化试验研究,探讨了用累积损伤方法来预测药柱贮存寿命,提出了一种准确、经济、方便地提前预测药柱贮存寿命的新方法和新技术.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蔡体敏	西北工业大学航天工程学院	78	945	15.0	25.0
2	高鸣	西北工业大学航天工程学院	3	9	2.0	3.0