电子时间引信的静电放电损伤及加固研究

• 作者: 刘尚合 陈砚桥 齐杏林
• 来源期刊: 探测与控制学报
• 关键词: 电子时间引信 静电放电 防护 加固
• 年，卷（期）: 1999,（2）
• 页码范围: 19-22
• 页数: 4页
• 分类号: TN91
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-1194.1999.02.004

摘要

用实验方法研究了静电放电(ESD)对某电子时间引信电子线路的损伤及其防护加固措施.引信在ESD的作用下,储存的信息会改变,当ESD的电压升高时,出现电子线路损坏,其损伤阈值为+200V.采取加固措施后,系统抗ESD的电压提高了2～3倍,使引信系统抗ESD的能力得到提高.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘尚合	军械工程学院静电技术研究所	203	2590	23.0	39.0
2	齐杏林	军械工程学院静电技术研究所	90	387	11.0	15.0
3	陈砚桥	军械工程学院静电技术研究所	3	9	2.0	3.0