LP数学校正模型在陶瓷原料常规元素EDXRF分析中的应用

• 作者: 张永青
• 来源期刊: 佛山陶瓷
• 关键词: LP数学校正模型 陶瓷原料 EDXRF
• 年，卷（期）: 1999,（3）
• 所属期刊栏目: 研究与探讨
• 页码范围: 7-9
• 页数: 3页
• 分类号: TQ17
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-8236.1999.03.003

摘要

本文介绍在使用PV9550能量色散X-射线荧光能谱仪测定陶瓷原料中常规元素时,选用LP数学模型进行基体效应校正的方法.经实验证实,该法与化学法测试结果具有良好的一致性,分析的准确度与精确度都能满足生产要求,具有简便、快速、准确的优点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张永青		1	4	1.0	1.0