铝电解质中二氧化锡的光谱测定

• 作者: 李跃萍
• 来源期刊: 光谱实验室
• 学科: 化学
• 关键词: 铝电解质 二氧化锡 光谱测定
• 年，卷（期）: 1999,（5）
• 页码范围: 521-523
• 分类号: O6
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-8138.1999.05.012

摘要

本文探讨了发射光谱法测定铝电解质中二氧化锡.粉末试样不需溶样,人工合成标准系列,消除了组织结构对测定的影响,对缓冲剂、内标、电极形状及摄谱条件作了最佳选择,RSD为 5.9%,加标回收率为100.9%,与国外XRF结果十分吻合.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李跃萍	国家轻金属质量监督检验中心郑州市上街区轻金属研究院	3	4	1.0	2.0