BES Ⅱ主漂移室径迹判选系统

• 作者: 丁慧良 姚卫良 张月元 李卫东 杜玉远 谈益平 赵棣新 过雅南 郁忠强 顾建辉 马恩成
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 北京谱仪 事例判选与触发 主漂移室 顶点探测器 飞行时间计数器 通用逻辑阵列
• 年，卷（期）: 1999,（1）
• 页码范围: 34-37
• 页数: 4页
• 分类号: TL8
• 字数: 3838字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.1999.01.008

摘要

本文介绍升级改进后的北京谱仪,BESⅡ,主漂移室径迹判选系统,叙述了该系统的性能和实现电路中采用了可编程器件FPGA和GAL,使判选系统更具灵活性和可靠性.