基于光斑场检测的亚微米级光纤微弯曲传感器

• 来源期刊: 传感技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 亚微米位移传感器 光纤传感技术 光斑场 光纤内积
• 年，卷（期）: 1999,（4）
• 页码范围: 234-239
• 页数: 6页
• 分类号: TP212
• 语种: 中文

摘要

该文介绍一种基于光斑场检测的光纤传感技术,通过光斑场的强度内积(NIP)计算来表征被测位移.它既保证了强度调制式光纤传感器结构简单、易于实现的优点,又具有与干涉型光纤传感器同一数量级的灵敏度.文中给出了 NIP计算方法,分析了灵敏度和动态范围,理论分析与实验结果基本一致,位移灵敏度可达亚微米数量级,位移测量范围为6 μM.