60Co事故受照人员远期细胞遗传学效应观察

• 作者: 傅宝华 吕玉民 赵风玲 陈玉浩 韩林
• 来源期刊: 遗传
• 学科: 生物学
• 关键词: 60Co 事故照射 染色体畸变 微核 远期效应
• 年，卷（期）: 1999,（4）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 22-24
• 页数: 3页
• 分类号: Q345+.1
• 字数: 1596字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-9772.1999.04.006

摘要

对三例钴源事故受照人员照后6(7)年和11(12)年两次细胞遗传学随访结果表明,两次随访受照者染色体畸变率分别为4.29%和3.63%,均显著高于对照组(P<0.01),但两次随访间未见显著差异(P>0.05),而且第一次随访染色体畸变是以双+环和无着丝粒断片为主,第二次随访是以易位、缺失和倒位为主;两次随访受照者微核率分别为4.17‰和1.17‰,第二次随访微核率明显下降(P<0.01).提示随着照后时间推移, 非稳定性染色体畸变逐渐丢失,稳定性染色体畸变仍保持在较高水平.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韩林		36	132	6.0	9.0
2	吕玉民		62	251	9.0	12.0
3	傅宝华		41	183	7.0	12.0
4	陈玉浩		37	161	7.0	11.0
5	赵风玲		41	216	9.0	13.0