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摘要:
用HXB方法计算了Si离子高离化态束箔光谱的跃迁波长、振子强度、跃迁几率以及能级寿命等.对不同束流能量入射下的Si离子谱进行了具体分析.并将部分计算结果与有关文献中的实验值做了比较.
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文献信息
篇名 高离化态Si的束箔光谱的理论分析
来源期刊 西北师范大学学报(自然科学版) 学科 物理学
关键词 波长 振子强度 能级寿命 束箔光谱
年,卷(期) 1999,(3) 所属期刊栏目 物理学
研究方向 页码范围 51-55
页数 5页 分类号 O562.3
字数 2573字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-988X.1999.03.012
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 杨治虎 中国科学院近代物理研究所 47 71 4.0 6.0
2 王友德 中国科学院近代物理研究所 15 19 3.0 3.0
3 张树东 西北师范大学物理系 17 209 8.0 14.0
4 陈冠英 西北师范大学物理系 20 221 9.0 14.0
5 符彦飙 西北师范大学物理系 24 51 4.0 6.0
6 袁萍 西北师范大学物理系 55 346 10.0 15.0
7 董晨钟 西北师范大学物理系 92 357 9.0 15.0
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研究主题发展历程
节点文献
波长
振子强度
能级寿命
束箔光谱
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
西北师范大学学报(自然科学版)
双月刊
1001-988X
62-1087/N
大16开
甘肃兰州安宁东路967号
54-53
1942
chi
出版文献量(篇)
3180
总下载数(次)
2
总被引数(次)
17931
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