基于HRIS图像数据特征的畸变像元相关校正

• 作者: 王学良
• 来源期刊: 光学精密工程
• 学科: 工学
• 关键词: 高分辨率成像光谱仪(HRIS) 图像数据 相关性 畸变像元 相关校正
• 年，卷（期）: 1999,（5）
• 所属期刊栏目: 图像处理
• 页码范围: 37-42
• 页数: 6页
• 分类号: TN941.1
• 字数: 2914字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1004-924X.1999.05.006

摘要

说明了HRIS相邻光谱通道图像数据具有高度的相关性,提出了基于这种特性和数据插值的畸变像元相关校正方法,该方法分为两个步骤,第一步,利用图像相关性对图像中的畸变像元进行检测,目的在于减小图像数据的变化,减少运算时间;第二步,通过曲面拟合方法,对检测出的畸变像元强度进行校正.实验表明该校正方法,具有很好的效果,并应用到了实际的HRIS数据处理中.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王学良	中国科学院长春光学精密机械研究所	23	174	8.0	12.0