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摘要:
采用ArF脉冲准分子激光沉积法并结合退火后处理工艺,在Si(111)衬底上成功地制备了AlN晶态薄膜.X射线衍射、扩展电阻与原子力显微镜等测试结果表明:薄膜具有(101)取向,平均晶粒大小为200 nm;薄膜介电性能优异,扩展电阻在108Ω以上.
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文献信息
篇名 脉冲准分子激光沉积AlN薄膜的研究
来源期刊 中国激光 学科 工学
关键词 氮化铝 脉冲激光沉积 介电性
年,卷(期) 1999,(9) 所属期刊栏目 实验技术与元件
研究方向 页码范围 815-818
页数 分类号 TN2
字数 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0258-7025.1999.09.012
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王连卫 中国科学院上海冶金所信息功能材料国家重点实验室 11 156 4.0 11.0
2 黄继颇 中国科学院上海冶金所信息功能材料国家重点实验室 5 146 4.0 5.0
3 林成鲁 中国科学院上海冶金所信息功能材料国家重点实验室 44 595 15.0 23.0
4 周艳萍 中国科学院上海硅酸盐所 4 53 4.0 4.0
5 高剑侠 中国科学院上海冶金所信息功能材料国家重点实验室 3 17 3.0 3.0
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研究主题发展历程
节点文献
氮化铝
脉冲激光沉积
介电性
研究起点
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
中国激光
月刊
0258-7025
31-1339/TN
大16开
上海市嘉定区清河路390号 上海800-211邮政信箱
4-201
1974
chi
出版文献量(篇)
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