一种改进的X荧光分析基体效应校正方法及软件实现

• 作者: 周蓉生 祖秀兰
• 来源期刊: 物探化探计算技术
• 学科: 地球科学
• 关键词: X荧光谱分析 基体效应校正 分析软件
• 年，卷（期）: 1999,（3）
• 页码范围: 227-230
• 页数: 4页
• 分类号: TP311.5|P575.4
• 字数: 1871字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-1749.1999.03.008

摘要

在能量色散 X荧光谱分析中,使用罗兹方程法校正基体效应,存在一定的局限性.为了获得最佳校正效果,本文提出了一种改进的基体效应校正法.该法是以罗兹方程为基础,在校正模型中引入特散比,并加强待校正元素在模型中作用的一种经验系数法.为了能够快速地对地质样品进行批量分析,在 Windows98平台上,运用 VC++5.0工具编制了分析软件,由其完成全部校正分析过程.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周蓉生		68	865	16.0	25.0
2	祖秀兰		8	183	5.0	8.0