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摘要:
用扫描电镜观测了GaAs/GaAlAs透射式光电阴极的表面形貌,计算了阴极表面形貌对阴极发射电子的平均横向能量的贡献,测量了阴极激活过程中阴极发射电子的平均横向能量随激活时间的变化.结果表明,GaAs/GaAlAs阴极表层的Cs/O激活层对电子的散射是导致阴极发射电子的平均横向能量值增高的根本原因.最后提出减少阴极发射电子的平均横向能量的技术途径.
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文献信息
篇名 GaAs/GaAlAs透射式光电阴极发射电子的平均横向能量
来源期刊 半导体光电 学科 工学
关键词 成像器件 GaAs/GaAlAs光电阴极 平均横向发射能量 表面形貌 Cs/O激活层
年,卷(期) 1999,(4) 所属期刊栏目 科研论文
研究方向 页码范围 255-257
页数 3页 分类号 O723|TN383.4
字数 1907字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-5868.1999.04.011
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 闫金良 西安交通大学电信学院 8 41 3.0 6.0
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研究主题发展历程
节点文献
成像器件
GaAs/GaAlAs光电阴极
平均横向发射能量
表面形貌
Cs/O激活层
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体光电
双月刊
1001-5868
50-1092/TN
大16开
重庆市南坪花园路14号44所内
1976
chi
出版文献量(篇)
4307
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