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摘要:
采用退偏振光强度法、SALS和POM测定了高分子液晶态有序微区结构随体系温度变化的规律,并用DSC法研究具有不同有序微区结构尺寸的液晶态的结晶过程.结果发现,高分子液晶态有序性或有序微区结构是随着体系退火温度和时间的变化而变化.同时从相应的不同有序性为起始态进行结晶时,其结晶速率明显不同.并讨论了高分子液晶态的结晶机理.
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内容分析
关键词云
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文献信息
篇名 高分子液晶态有序性对其结晶过程的影响
来源期刊 高分子学报 学科 化学
关键词 液晶态 有序微区 结晶过程
年,卷(期) 1999,(3) 所属期刊栏目 论文
研究方向 页码范围 320-325
页数 6页 分类号 O6
字数 2668字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1000-3304.1999.03.011
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 陈寿羲 中国科学院化学研究所 4 54 3.0 4.0
2 翟华春 中国科学院化学研究所 1 4 1.0 1.0
3 金永泽 中国科学院化学研究所 2 30 2.0 2.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
液晶态
有序微区
结晶过程
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
高分子学报
月刊
1000-3304
11-1857/O6
大16开
北京中关村北一街2号(北京2709信箱)
2-498
1957
chi
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4355
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15
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47675
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