金属微粒-介质复合薄膜(Ag-BaO)的正电子湮没寿命实验

• 作者: 吴锦雷 李丽君
• 来源期刊: 北京大学学报(自然科学版)
• 学科: 物理学
• 关键词: 金属微粒 正电子湮没 薄膜
• 年，卷（期）: 1999,（3）
• 页码范围: 391-394
• 页数: 4页
• 分类号: O462.3
• 字数: 2447字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0479-8023.1999.03.015

摘要

以真空蒸发方式制备的金属微粒-介质复合薄膜,会存在各种不同的微观结构缺陷.为研究它的这种缺陷,制备了Ag微粒-介质(BaO)复合薄膜,并在不同温度下退火,对这些样品做了正电子湮没寿命实验,结果发现随退火温度升高正电子湮没平均寿命减少,这是因为表征金属微粒与介质之间界面状况的缺陷经退火而得到改善.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴锦雷	北京大学电子学系	48	341	12.0	16.0
2	李丽君	北京大学电子学系	7	68	4.0	7.0