大陆中、下地壳电学特征实验研究

• 作者: 朱茂旭 谢鸿森
• 来源期刊: 地质科技情报
• 学科: 地球科学
• 关键词: 大陆中 下地壳 电导率 高导层 高温高压
• 年，卷（期）: 1999,（4）
• 所属期刊栏目: 技术方法
• 页码范围: 97-102
• 页数: 6页
• 分类号: P631.3
• 字数: 7291字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7849.1999.04.022

摘要

高温高压下地壳物质电导率的实验室测定是研究大陆中、下地壳高导层成因的重要方法之一.研究表明,水、石墨、部分熔融以及矿物脱水都可能形成地壳高导层,在不同构造环境和深度下这些机制起着不同的作用.为解释中地壳高导层,水的存在是必不可少的条件,在下地壳,水、石墨、部分熔融以及矿物脱水、甚至特定的干的下地壳岩石都可解释大地电磁测量结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱茂旭	中国科学院贵阳地球化学研究所	16	307	9.0	16.0
2	谢鸿森	中国科学院贵阳地球化学研究所	79	710	16.0	22.0