ScI3-NaI-ThI4中Sc和Th的测定方法

• 作者: 杨志红 袁慧
• 来源期刊: 原子能科学技术
• 关键词: ScI3-NaI-ThI4 X射线荧光分析 络合滴定 Sc Th
• 年，卷（期）: 1999,（1）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 18-23
• 页数: 6页
• 分类号: O657.34|O655.25
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6931.1999.01.004

摘要

利用X射线荧光分析法和络合滴定分析法实验测定ScI3-NaI-ThI4中的Sc和Th.实验研究了X射线荧光分析法测定Sc的仪器工作条件及不同制样方法对Sc和Th测定的影响;采用聚酯膜制样技术建立了X射线荧光分析测定Sc和Th的方法,精密度优于4 %;研究了络合滴定分析方法中酸度、温度对滴定终点的影响,比较了不同滴定方法的测量结果,建立了ScI3-NaI-ThI4产品中Sc和Th的络合滴定测量方法,其精密度优于2 %.方法已应用于实际样品分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨志红	中国原子能科学研究院放射化学研究所	22	61	4.0	7.0
2	袁慧	中国原子能科学研究院放射化学研究所	5	14	2.0	3.0