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摘要:
针对在MEMS加工中所要求的低温键合,提出了一种用氧等离子体激活处理来降低退火温度的低温硅片直接键合技术.研究了低温SDB的特性并得出了经过氧等离子体处理的硅片界面能比常规同条件的SDB提高近10倍的结论.最后详细探讨了其键合机理.
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文献信息
篇名 用氧等离子体激活处理的低温硅片直接键合技术
来源期刊 半导体技术 学科 工学
关键词 MEMS 低温硅片直接键合 氧等离子体激活
年,卷(期) 1999,(5) 所属期刊栏目 器件研究与制造
研究方向 页码范围 19-22
页数 4页 分类号 TN305.2
字数 2341字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1003-353X.1999.05.006
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 茅盘松 东南大学微电子中心 5 45 4.0 5.0
2 肖(龙天) 东南大学微电子中心 1 16 1.0 1.0
3 袁瞡 东南大学微电子中心 1 16 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
MEMS
低温硅片直接键合
氧等离子体激活
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体技术
月刊
1003-353X
13-1109/TN
大16开
石家庄179信箱46分箱
18-65
1976
chi
出版文献量(篇)
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