从47届丹佛X射线会议看X射线荧光分析的发展

• 作者: 茅祖兴
• 来源期刊: 岩矿测试
• 学科: 化学
• 关键词: 丹佛X射线分析会议 痕量元素分析 微分析
• 年，卷（期）: 1999,（2）
• 所属期刊栏目: 学术交流与综述
• 页码范围: 146-149
• 页数: 4页
• 分类号: O657.34
• 字数: 4902字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0254-5357.1999.02.016

摘要

介绍了47届丹佛X射线会议的简况.从会议的专题讲座和提交的学术论文可见,全反射X射线荧光、同步辐射、高能量分辨率超导检出器和聚毛细管光学透镜等新技术的引入,大大地推动了X射线荧光痕量分析和微分析的发展.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	茅祖兴		1	10	1.0	1.0