可用正偏二次击穿测量法验证大功率器件的可靠性

• 作者: 陈克明
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 可靠性 二次击穿 老化 筛选
• 年，卷（期）: 1999,（5）
• 所属期刊栏目: 可靠性研究
• 页码范围: 38-42
• 页数: 5页
• 分类号: TN323+.4|TN306
• 字数: 2769字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353X.1999.05.012

摘要

介绍了一些比较简单的提高大功率器件可靠性的老化、筛选措施.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈克明		1	0	0.0	0.0