环氧树脂的飞行时间次级离子质谱

• 作者: 宗祥福 曹永明 李越生 潘艺永 陈维孝
• 来源期刊: 分析化学
• 学科: 化学
• 关键词: 飞行时间次级离子质谱 银离化 环氧树脂
• 年，卷（期）: 1999,（2）
• 所属期刊栏目: 研究简报
• 页码范围: 158-161
• 页数: 4页
• 分类号: O6
• 字数: 1784字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3820.1999.02.008

摘要

用飞行时间次级离子质谱(ToF-SIMS)结合银离化方法研究了集成电路封装用环氧模塑料的主要成分--邻甲酚环氧树脂.实验中测得n=0～4的树脂分子及相应的水解成分.碎片离子中除了芳香化合物通常具有的碎片外,还有反映树脂结构的碎片.通过对银离化碎片离子的分析,推断中间苯环上的侧链是最可能断裂的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李越生	复旦大学材料科学系	26	166	6.0	12.0
2	曹永明	复旦大学材料科学系	14	64	4.0	7.0
3	宗祥福	复旦大学材料科学系	39	315	11.0	16.0
4	潘艺永	复旦大学材料科学系	1	1	1.0	1.0
5	陈维孝	复旦大学材料科学系	1	1	1.0	1.0