强电场干扰下开关均压电容器tanδ及Cx测量方法研究

• 作者: 孙东明 韩宝银 魏剑娜
• 来源期刊: 高电压技术
• 学科: 工学
• 关键词: 干扰 测量 介损 电容
• 年，卷（期）: 1999,（4）
• 所属期刊栏目: 经济交流
• 页码范围: 91-92
• 页数: 2页
• 分类号: TM5
• 字数: 1742字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-6520.1999.04.037

摘要

对500 kV变电所部分设备停电,在测量开关均压电容器介质损耗因数tanδ及电容量Cx时,受强电场干扰,电桥检流计大幅度、无规律的摆动,无法调平衡问题进行了研究,通过现场测量及试验室模拟试验研究,找出了造成检流计摆动的原因.用提高试验电压、降低标准电容器的电容量的方法,有效地降低了干扰的影响,准确测出了开关均压电容器tanδ及Cx值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韩宝银		1	5	1.0	1.0
2	孙东明		1	5	1.0	1.0
3	魏剑娜		1	5	1.0	1.0