HPGeγ谱仪电子学非线性的测量和研究

• 作者: 孟伯年 张天保 彭良强 陈红民 魏龙
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 非线性 HPGe γ谱仪
• 年，卷（期）: 1999,（4）
• 页码范围: 241-247
• 分类号: TL8
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.1999.04.001

摘要

用产生器脉冲和探测器脉冲两种方法相互核对测试了Ortec公司一套HPGe γ谱仪电子学各部件的非线性偏离曲线,测量精度到3×10-6水平,研究了它们对谱仪整个系统非线性的贡献.