对绝缘子表面电荷积聚机理的讨论

• 作者: 冯允平 刘志民 邱毓昌
• 来源期刊: 电工技术学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 电介质 表面电荷 积聚 机理
• 年，卷（期）: 1999,（2）
• 页码范围: 65-68
• 页数: 4页
• 分类号: O4
• 字数: 2899字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-6753.1999.02.015

摘要

从电磁场基本方程组出发,给出非均质介质中绝缘子表面电荷积聚的规律,揭示其物理本质和关键影响因素;研究了不同绝缘介质的交界面电荷积聚的方式和特点.用本文提出的理论可以解释文献报导的三种积聚模型,为分析绝缘子表面电荷积聚状况提供了理论依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邱毓昌		228	4719	36.0	54.0
2	冯允平		11	190	7.0	11.0
3	刘志民		1	63	1.0	1.0