纳米粉末 ZrO2-CeO2-La2O3的XRF分析研究

• 作者: 刘尚华 吉昂 陶光仪
• 来源期刊: 无机材料学报
• 学科: 工学
• 关键词: 纳米粉 荧光强度 粉末压片 团聚效应
• 年，卷（期）: 1999,（6）
• 所属期刊栏目: 简报
• 页码范围: 1005
• 分类号: TF123
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-324X.1999.06.029

摘要

本文用粉末压片法制样, XRF分析纳米粉ZrO2-CeO2-La2O3中主、次量元素, 研究了纳米粉中颗粒度效应对荧光强度的影响. 随着粉碎时间的延长和压力的增大, 元素的荧光强度逐步上升, 最后达到一个坪区. 在相同的压片条件下分析不同温度下煅烧的纳米粉, 其荧光强度却没有明显的差别. 因此认为, 纳米粉的团聚效应是影响元素荧光强度的主要因素.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘尚华	中国科学院上海硅酸盐研究所	2	90	2.0	2.0
2	陶光仪	中国科学院上海硅酸盐研究所	17	181	7.0	13.0
3	吉昂	中国科学院上海硅酸盐研究所	17	364	10.0	17.0