智能化BIT测试适配器研究

• 作者: 张天宏 李璇君 辛季龄
• 来源期刊: 数据采集与处理
• 学科: 工学
• 关键词: 数字电路 故障注入 智能化 适配器
• 年，卷（期）: 1999,（4）
• 所属期刊栏目: 理论与试验研究
• 页码范围: 462-466
• 页数: 5页
• 分类号: TP331
• 字数: 4360字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-9037.1999.04.013

摘要

介绍了故障注入的概念和常用手段,提出一种实用、方便的智能化BIT测试适配器设计思想.对智能化测试适配器"故障注入节点的设计"、"故障注入电路的实现"、"故障注入器结构体系的设计"、"智能化测试适配器软件包"四个关键技术问题给出了具体的方案.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	辛季龄	南京航空航天大学动力工程系	7	87	6.0	7.0
2	张天宏	南京航空航天大学动力工程系	102	991	17.0	25.0
3	李璇君	南京航空航天大学动力工程系	4	70	4.0	4.0