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InSb红外焦平面器件γ辐照损伤初步研究
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InSb/Sb超晶格
组分
结构
红外测温在半导体器件动态热分析中的应用
半导体器件
连续稳态显微红外测温技术
动态热分析
内容分析
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电子材料快报
主办单位：
天津电子材料研究所
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月刊
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天津(南)科研西路20号(天津55信箱)
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