现代X射线荧光光谱仪的进展

• 作者: 丁志强 盛伟志 谢荣厚 高新华
• 来源期刊: 冶金分析
• 学科: 工学
• 年，卷（期）: 1999,（1）
• 所属期刊栏目: 综述与评论、标准化
• 页码范围: 32-36
• 分类号: TF1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7571.1999.01.012

摘要

近年来X射线荧光光谱分析有了长足的进步,特别在数据处理以及其关键部件,如X射线管、晶体等方面.分析检出限已达ng级,成为现代分析技术的一种重要手段.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高新华		6	79	5.0	6.0
2	谢荣厚		3	64	3.0	3.0
3	盛伟志		1	40	1.0	1.0
4	丁志强		1	40	1.0	1.0