X射线分层成像的深度谱立体匹配技术

• 作者: 王经瑾 邹小庆
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 立体匹配 X射线透视成像 分层成像
• 年，卷（期）: 1999,（3）
• 页码范围: 178-181
• 页数: 4页
• 分类号: TL8
• 字数: 1890字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.1999.03.005

摘要

X射线透视成像中物体互相重叠,有时边缘模糊不清.利用深度谱分析物体层次,提高了立体匹配的置信度,提高了X 射线立体透视的分层成像的质量.给出了实测深度谱和分层成像结果.