双源两次X射线荧光测量法鉴定金饰品质量

• 作者: 严振庄 谢东
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 金饰品 X射线荧光分析
• 年，卷（期）: 1999,（4）
• 所属期刊栏目: 工作简报
• 页码范围: 314-315
• 分类号: TL8
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.1999.04.018

摘要

介绍了用放射性同位素X射线荧光分析法检查24k金饰品质量的简便方法,该方法使用241Am和238Pu两种辐射源进行两次测量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	严振庄	河北师范大学物理系	3	7	1.0	2.0
2	谢东	河北师范大学物理系	1	0	0.0	0.0