经软X射线辐照的InP的表面损伤态

• 作者: 刘昶时 杨祖慎 武光明 靳涛
• 来源期刊: 核技术
• 学科: 物理学
• 关键词: InP 软X射线 损伤
• 年，卷（期）: 1999,（3）
• 页码范围: 139-142
• 页数: 4页
• 分类号: O57
• 字数: 1606字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3219.1999.03.003

摘要

采用X光激发光电子能谱(XPS)对经同步辐射软X光辐照的InP表面进行了分析.实验结果表明:InP表面辐照损伤与辐照X光的能量及剂量有关,尤其是具有近P原子K壳层共振吸收能量的软X光辐照与其它X射线辐照相比,其结果有所不同.文中就实验结果的机制进行了初步探讨.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	靳涛	中国科学院新疆物理研究所	11	6	2.0	2.0
2	杨祖慎		6	8	2.0	2.0
3	刘昶时		1	0	0.0	0.0
4	武光明		1	0	0.0	0.0