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IDDQ测试生成系统模拟实现
IDDQ测试生成系统模拟实现
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摘要：
采用了一种新的电路描述方法,适用于CMOS开关级电路及桥接故障模型:给出了几个主要的数据类型及操作;介绍了基本算法,并分析了算法的主要特点;根据这一算法,设计了一个实用测试生成系统,并以标准电路T74181为例,进行了验证.
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文献信息
| 篇名 | IDDQ测试生成系统模拟实现 | ||
| 来源期刊 | 湘潭大学自然科学学报 | 学科 | 工学 |
| 关键词 | IDDQ测试 桥接故障 测试生成系统 | ||
| 年，卷（期） | 1999,（2） | 所属期刊栏目 | 计算机科学 |
| 研究方向 | 页码范围 | 117-120 | |
| 页数 | 分类号 | TP3 | |
| 字数 | 语种 | 中文 | |
| DOI | 10.3969/j.issn.1000-5900.1999.02.032 | ||
五维指标
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研究主题发展历程
节点文献
IDDQ测试
桥接故障
测试生成系统
研究起点
研究来源
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
湘潭大学自然科学学报
主办单位：
湘潭大学
出版周期：
双月刊
ISSN：
1000-5900
CN：
43-1066/TN
开本：
出版地：
湖南省湘潭市湘潭大学期刊社
邮发代号：
创刊时间：
语种：
chi
出版文献量（篇）
2407
总下载数（次）
2
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