肖特基二极管伏安特性与导通压降相关性研究

• 来源期刊: 电力电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 伏安特性/PN结 肖特基结
• 年，卷（期）: 1999,（6）
• 页码范围: 54-57
• 页数: 4页
• 分类号: TN31
• 语种: 中文

摘要

根据金属与半导体之间肖特基势垒接触的电流?电压关系设计出了一套简易的实验装置,研究了40CPQ045 型肖特基势垒二极管芯片小电流下(＜ 2A)的正向电流?电压特性.通过外推40A大电流下芯片结压降的数值,验证了通过小电流正向电流?电压特性曲线来外推预测大电流下芯片结压降值的可行性.