电子能谱线形分析研究碳物种的化学状态

• 作者: 叶小燕 姚文清 曹立礼 朱永法 郑斌
• 来源期刊: 分析化学
• 学科: 化学
• 关键词: X射线光电子能谱 俄歇电子能谱 线形分析 碳
• 年，卷（期）: 1999,（1）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 10-13
• 页数: 4页
• 分类号: O6
• 字数: 2683字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3820.1999.01.003

摘要

利用XPS的C1s携上峰,X射线激发俄歇线形,XPS价带谱以及俄歇电子能谱的CKLL线形研究了几种碳材料的化学状态和电子结构.研究结果表明:XPS的携上效应可以鉴别不同结构的碳材料.XAES的化学位移和线形也可以有效地研究各种不同的碳材料的成键方式.XPS的价带谱也是研究固体表面电子结构的一种有效方法,对碳材料的研究也很有效.AES的C KLL俄歇线形非常适合金属碳化物的鉴别.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱永法	清华大学化学系	72	1238	21.0	33.0
2	姚文清	清华大学化学系	32	302	9.0	16.0
3	曹立礼	清华大学化学系	24	444	10.0	21.0
4	叶小燕	清华大学化学系	8	54	5.0	7.0
5	郑斌	清华大学化学系	4	21	2.0	4.0