氩等离子体射流冲击平板壁面处电子温度的测量

• 来源期刊: 工程热物理学报
• 学科: 工学
• 关键词: 等离子体射流 电子温度测量 静电探针方法
• 年，卷（期）: 1999,（2）
• 页码范围: 211-215
• 页数: 5页
• 分类号: TP60
• 语种: 中文

摘要

该文对空气环境中氩等离子体射流冲击平板条件下冷壁附近的电子温度,采用静电探针方法进行了测量.研究了等离子体温度、速度以及平板至发生器出口距离等参数的影响.实验结果表明,在冷壁面附近,电子温度总是明显高于相应的重粒子温度,从而证明在等离子体射流冲击平板条件下冷壁附近的边界层显著偏离局域热力学平衡(LTE)状态.实验结果还表明,探针污染是影响测量结果可靠性的一个重要因素.