可靠性设计、试验与设备

• 来源期刊: 电子科技文摘
• 学科: 工学
• 关键词: 可靠性设计 可测试性设计 问题研究 混合信号 试验 设备 微处理机 设计目标 制造 路由器
• 年，卷（期）: 1999,（5）
• 页码范围: 3-4
• 页数: 2页
• 分类号: TN

摘要

【正】 Y98-61413-489 9905619混合信号 IC 可测试性结构的设计、制造和使用=De-sign,fabrication and use of mixed-signal IC testabilitystructures[会,英]/Parker,K.P.& Nuriya,K.//1997IEEE International Test Conference.—489～498(PV)Y98-61413-557 9905620可测试性设计问题研究(需要与否)=To DFT or notto DFT?[会,英]/Wei,S.& Nag,P.K.//1997IEEE International Test Conference.—557～566(PV)