IEEE 1149.1可测试性设计技术的研究与发展

• 作者: 梁松海 邱峰
• 来源期刊: 测控技术
• 学科: 工学
• 关键词: 可测试性 可测试性设计 边界扫描测试 IEEE1149.1标准
• 年，卷（期）: 1999,（1）
• 所属期刊栏目: 专题报告--测控综合技术
• 页码范围: 28-30
• 页数: 3页
• 分类号: TM7|TP8
• 字数: 3818字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8829.1999.01.009

摘要

在分析VLSI可测试性设计技术的发展情况和设计准则的基础上,讨论了研究与发展IEEE 1149.1可测试性设计技术的重要意义,以及该技术在我国民用和军用工业应用的前景.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	梁松海	清华大学微电子所	7	70	5.0	7.0
2	邱峰	中国航天工业总公司测控公司测控系统部	1	15	1.0	1.0