基于多分辨率的时域方法在微波集成电路中的应用

• 作者: 李征帆 袁正宇
• 来源期刊: 上海交通大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 微波集成电路 时域分析 多分辨率方法 吸收边界条件
• 年，卷（期）: 1999,（1）
• 页码范围: 65-68
• 页数: 4页
• 分类号: TN015|TN454
• 字数: 3025字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1006-2467.1999.01.019

摘要

将基于多分辨率分析的时域方法(MRTD)用于微波集成电路中多层介质导体互连线的时域电磁场分析,推导了基于MRTD的一阶Mur's吸收边界条件的差分格式,进而采用理想匹配层(PML)技术形成吸收边界,使适用范围从原来的封闭系统推广到开放系统.用此方法对微波集成电路互连线进行了分析,结果与传统FDTD比较一致.由于MRTD方法的色散特性较好,则可用比FDTD少得多的网格数来模拟电磁结构,从而达到与FDTD相同的计算精度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李征帆	上海交通大学电子工程系	83	533	13.0	18.0
2	袁正宇	上海交通大学电子工程系	8	35	3.0	5.0