快离子在C60薄膜中电子能损效应

• 作者: 侯明东 刘昌龙 刘杰 姚江东 杨茹 王衍斌 程松 金运范
• 来源期刊: 科学通报
• 学科: 化学
• 关键词: 电子能损效应 C60薄膜 快离子 退火效应
• 年，卷（期）: 1999,（20）
• 所属期刊栏目: 简报
• 页码范围: 2150-2153
• 页数: 4页
• 分类号: O6
• 字数: 2294字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0023-074X.1999.20.004

摘要

用Raman散射技术分析了171.2 MeV S9+和120 keV的H+离子在C60薄膜中电子能损引起的效应,即晶态→非晶态转变.在H+离子辐照的情况下,发现电子能损有明显的退火效应,致使C60晶态→非晶态转变过程中,经过一个石墨化的中间过程.而在S9+离子辐照的情况下,电子能损的破坏作用超过了退火效应,不存在石墨化的中间过程.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	金运范	中国科学院近代物理研究所	38	183	9.0	12.0
2	刘杰	中国科学院近代物理研究所	218	1905	24.0	36.0
3	杨茹	中国科学院近代物理研究所	3	5	2.0	2.0
4	侯明东	中国科学院近代物理研究所	41	177	7.0	12.0
5	刘昌龙	中国科学院近代物理研究所	12	44	3.0	6.0
6	王衍斌	中国科学院近代物理研究所	6	16	3.0	4.0
7	程松	中国科学院近代物理研究所	1	3	1.0	1.0
8	姚江东	兰州大学物理系	1	3	1.0	1.0