杂波图CFAR平面技术在均匀背景中的性能

• 作者: 何友 刘永 孟祥伟
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 雷达 检测 恒虚警率 杂波图
• 年，卷（期）: 1999,（3）
• 所属期刊栏目: 科研通信
• 页码范围: 119-120
• 页数: 2页
• 分类号: TN91
• 字数: 2001字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0372-2112.1999.03.033

摘要

典型的杂波图恒虚警检测技术常被用于时域平稳、空域变化较剧烈的杂波环境.它在每个杂波图单元处都形成一个独立的检测阈值,于是被称为杂波图CFAR点技术.而沈福民提出了一种杂波图CFAR平面技术[1]的构想.这是一种在时空两维变化都比较平稳的杂波环境情况下尤为适用的杂波图CFAR检测技术,我们将其称为面技术.本文具体推导了这种技术在时空两维都均匀的背景中的检测性能表达式,并同杂波图点技术的性能进行较细致的分析比较.结论表明,在上述均匀背景中应用面技术的效果要明显优于点技术.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何友	海军航空工程学院电子工程系	492	6436	37.0	56.0
2	孟祥伟	海军航空工程学院电子工程系	40	402	8.0	19.0
3	刘永	海军航空工程学院电子工程系	1	27	1.0	1.0