谈传感器内腔的保护及密封质量引起的零点漂移问题

• 作者: 武君婷
• 来源期刊: 衡器
• 学科: 工学
• 关键词: 零点飘移 内腔保护 胶封技术
• 年，卷（期）: 2000,（4）
• 所属期刊栏目: 科技应用
• 页码范围: 20-22
• 页数: 3页
• 分类号: TP2
• 字数: 2340字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-5729.2000.04.007

摘要

传感器零点和性能指标长期稳定性,与传感器内腔的保护及密封这一工艺环节有着密切关系,所以大多数厂家均采取加强内腔保护提高密封技术等措施,本文就这一工艺环节做一介绍,以供读者参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	武君婷		3	5	1.0	2.0