正交投影用于多波长色谱重叠峰分析

• 作者: 崔卉 陈迪钊
• 来源期刊: 色谱
• 学科: 化学
• 关键词: 多波长色谱 正交投影 重叠峰分辨 双波长特征信息分析
• 年，卷（期）: 2000,（2）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 100-103
• 页数: 4页
• 分类号: O658
• 字数: 2919字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-8713.2000.02.002

摘要

将正交投影分辨(OPR)技术用于多波长色谱重叠峰分辨,当色谱峰中最大重叠度小于或等于波长数时,用这一方法能从多波长色谱重叠峰中获得完全真解.基于双波长色谱分析,提出了一种新的色谱重叠峰中背景校正、组分数和纯组分信号区确定以及各组分重叠情况的分析方法,即双波长特征信息分析(DWCI).该法被成功的用于三组分双峰和双组分单峰重叠色谱的分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	崔卉	湖南大学分析测试中心	16	291	10.0	16.0
2	陈迪钊	怀化师范高等专科学校化学系	3	20	3.0	3.0